一、設(shè)備原理：

　　非接觸測(cè)厚儀是一款高性能高精密的測(cè)量?jī)x器，可以不接觸樣品表面進(jìn)行厚度測(cè)量。這種方式可以避免接觸測(cè)量引起的表面損傷，特別適用于軟脆材料及對(duì)樣品表面質(zhì)量高要求的測(cè)量。該儀器能非常理想的用于半導(dǎo)體、光學(xué)及電光材料處理等的測(cè)量應(yīng)用。

　　

　　測(cè)厚儀配置的測(cè)量探針將壓縮氮?dú)獯怪毕蛳麓迪虮粶y(cè)量的樣品表面，在樣品表面上形成穩(wěn)定氣膜，可以不接觸樣品表面進(jìn)行厚度測(cè)量，并通過(guò)數(shù)字顯示系統(tǒng)顯示出所測(cè)得樣品的厚度數(shù)值。它集激光光源，光電檢測(cè)和計(jì)算機(jī)工業(yè)控制技術(shù)三者于一身，可廣泛用于生產(chǎn)線上對(duì)各種材料的厚度、寬度、輪廓的實(shí)時(shí)測(cè)量，是我國(guó)工業(yè)生產(chǎn)線產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要設(shè)備。

　　

　　設(shè)備采樣速度快（最大8000個(gè)/秒）、精度高，性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)單。厚度范圍0～500mm（或可按要求設(shè)定范圍）。精度最高可達(dá)1um。主要應(yīng)用領(lǐng)域：橡膠、鋼鐵、汽車、機(jī)械、輕工等行業(yè)。

　　

　　二、設(shè)備優(yōu)勢(shì)：

　　1、在不接觸樣品表面情況下，達(dá)到納米級(jí)別精確測(cè)量；

　　2、氮?dú)鈱?duì)樣品表面形成保護(hù)層，防止在測(cè)量時(shí)產(chǎn)生二次損傷。